AFM观察中的问题

[ 2009年2月19日 ]
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用AFM观察铁电材料中的电畴过程中,从上向下扫和从下向上扫,图像是相反的,不是相同的,这种情况是不是假象?电畴结构和表面形貌是否能完全分离?
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